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번 인 보드(Burn In Board)최종 수정 일자 : 2018-11-22 10:01:18
■ 제품개요
- Description
Burn In Test에 사용되는 DUT(Device Under Test) Board로서 반도체 Device를 바로 Test 할 수 있도록 많은 Socket이 부착되어 있음.
(Burn In Test는 디바이스 탑재된 Burn In Board에 온도, 전압 등의 악조건을 인가하여 초기 불량을 검출하고 제품의 특성을 평가하는 Test)
- Specification
- Structure
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